ソイテック
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第7458位 2件
（
2017年：第3286位 6件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第1497位 12件
（
2017年：第2245位 7件）
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ソイテックの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6432090 | 異なる歪み状態を有するトランジスタチャネルを含む半導体層を製作する方法及び関連半導体層 | 2018年12月 5日 | |
| 特許 6413129 | 二重層転写のための機械的分離の方法 | 2018年10月31日 | |
| 特許 6410362 | 効率を改善するように構成された低バンドギャップ活性層を有する光活性デバイス及び関連する方法 | 2018年10月24日 | |
| 特許 6400693 | 犠牲材料で充填されたキャビティを含む半導体構造を作製する方法 | 2018年10月 3日 | |
| 特許 6369761 | 構造を処理するためのプロセス | 2018年 8月 8日 | |
| 特許 6354057 | 構造を作製するための方法 | 2018年 7月11日 | |
| 特許 6319849 | 単結晶材料の利用効率を改善した擬似基板 | 2018年 5月 9日 | |
| 特許 6286775 | 選択された界面に沿って少なくとも２つの基板を分離するための方法 | 2018年 3月 7日 | |
| 特許 6286776 | 活性層の初期歪み状態を最終歪み状態へと修正するプロセス | 2018年 3月 7日 | |
| 特許 6286780 | 無線周波数用途又は電力用途のための電子装置及びそのような装置を製造するためのプロセス | 2018年 3月 7日 | |
| 特許 6273620 | 多層半導体構造の層の厚さばらつきを測定するための方法 | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6269664 | ＬＥＤ又は太陽電池セルの構造を製造する方法 | 2018年 1月31日 |
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6432090 6413129 6410362 6400693 6369761 6354057 6319849 6286775 6286776 6286780 6273620 6269664
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