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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7428500 | 発光素子駆動回路 | 2024年 2月 6日 | |
特許 7427189 | レーザ加工方法、半導体部材製造方法、及び、レーザ加工装置 | 2024年 2月 5日 | |
特許 7427387 | 光学素子 | 2024年 2月 5日 | |
特許 7427066 | 放射線撮像装置 | 2024年 2月 2日 | |
特許 7425730 | アクチュエータ装置、及びアクチュエータ装置の製造方法 | 2024年 1月31日 | |
特許 7424572 | モデル生成方法、モデル生成システム、モデル生成プログラム、異物検出方法、異物検出システム、異物検出プログラム及び推論モデル | 2024年 1月30日 | |
特許 7424578 | 撮像ユニット、質量分析装置、及び質量分析方法 | 2024年 1月30日 | |
特許 7421951 | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 | 2024年 1月25日 | |
特許 7421989 | 量子カスケードレーザ素子及び量子カスケードレーザ装置 | 2024年 1月25日 | |
特許 7422035 | 光電面電子源 | 2024年 1月25日 | |
特許 7422045 | 半導体レーザ素子 | 2024年 1月25日 | |
特許 7422147 | 光電陰極、電子管、及び、電子管の製造方法 | 2024年 1月25日 | |
特許 7414553 | 光学ユニット | 2024年 1月16日 | |
特許 7413294 | 光検出装置 | 2024年 1月15日 | |
特許 7413375 | 半導体検査装置及び半導体検査方法 | 2024年 1月15日 |
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7428500 7427189 7427387 7427066 7425730 7424572 7424578 7421951 7421989 7422035 7422045 7422147 7414553 7413294 7413375
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