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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
（ランキング更新日：2020年10月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5110987 | プラズマ処理方法およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5107629 | 偏向制御回路、及び電子線走査装置 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5108629 | 自動分析装置 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5107812 | 検査装置 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5107984 | ステージ装置 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5107146 | 自動分析装置 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5108489 | プラズマ処理方法 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5106906 | 自動分析装置 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5107977 | イオントラップ質量分析装置 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5110977 | 欠陥観察装置及びその方法 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5103422 | 荷電粒子ビーム装置 | 2012年12月19日 | |
| 特許 5103058 | 欠陥観察装置及び欠陥観察方法 | 2012年12月19日 | |
| 特許 5102968 | 導電性針およびその製造方法 | 2012年12月19日 | |
| 特許 5103253 | 荷電粒子線装置 | 2012年12月19日 | |
| 特許 5102580 | 荷電粒子線応用装置 | 2012年12月19日 |
547 件中 1-15 件を表示
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5110987 5107629 5108629 5107812 5107984 5107146 5108489 5106906 5107977 5110977 5103422 5103058 5102968 5103253 5102580
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