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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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　■　2016年特許取得件数ランキング　　　第89位　360件（2015年：第95位　287件）

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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
再表 2014-7034	分析装置及び分析方法	2016年 6月 2日
再表 2014-7074	磁力体カバー及び核酸抽出装置	2016年 6月 2日
特開 2016-103387	荷電粒子線装置	2016年 6月 2日
特開 2016-103496	プラズマ処理装置	2016年 6月 2日
再表 2014-2579	ステージ装置および試料観察装置	2016年 5月30日
特開 2016-99383	貼合方法および貼合装置	2016年 5月30日
特開 2016-100153	荷電粒子線装置および検査方法	2016年 5月30日
特開 2016-100310	荷電粒子線装置	2016年 5月30日
特開 2016-100570	処理装置およびその据え付け方法	2016年 5月30日
特開 2016-95133	自動分析装置	2016年 5月26日
特開 2016-95895	イオンミリング装置を用いた試料の加工方法、及びイオンミリング装置	2016年 5月26日
特開 2016-96091	プラズマ処理装置	2016年 5月26日
特開 2016-96211	真空処理装置	2016年 5月26日
特開 2016-91139	故障原因分類装置	2016年 5月23日
特開 2016-92342	プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法	2016年 5月23日

246 件中 136-150 件を表示

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2014-7034 2014-7074 2016-103387 2016-103496 2014-2579 2016-99383 2016-100153 2016-100310 2016-100570 2016-95133 2016-95895 2016-96091 2016-96211 2016-91139 2016-92342

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