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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第182位 243件
(2015年:第107位 423件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第89位 360件
(2015年:第95位 287件)
(ランキング更新日:2025年6月10日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2016-122668 | 荷電粒子線装置 | 2016年 7月 7日 | |
特開 2016-118389 | 相互作用解析装置 | 2016年 6月30日 | |
特開 2016-118390 | 放射線イメージセンサ | 2016年 6月30日 | |
特開 2016-118445 | X線検査方法及び装置 | 2016年 6月30日 | |
特開 2016-119344 | プラズマ処理方法 | 2016年 6月30日 | |
特開 2016-119473 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理装置の運転方法 | 2016年 6月30日 | |
特開 2016-115503 | 荷電粒子線装置 | 2016年 6月23日 | |
特開 2016-115818 | プラズマ処理装置 | 2016年 6月23日 | |
特開 2016-115819 | プラズマ処理装置 | 2016年 6月23日 | |
特開 2016-106563 | 生体分子測定装置及び生体分子測定方法 | 2016年 6月20日 | |
特開 2016-106686 | 位置推定方法、位置推定システム及び磁場発生装置 | 2016年 6月20日 | |
特開 2016-109485 | 欠陥観察方法及び欠陥観察装置 | 2016年 6月20日 | |
特開 2016-111166 | 欠陥観察装置および欠陥観察方法 | 2016年 6月20日 | |
特開 2016-106214 | 自動分析装置 | 2016年 6月16日 | |
特開 2016-105433 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2016年 6月 9日 |
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2016-122668 2016-118389 2016-118390 2016-118445 2016-119344 2016-119473 2016-115503 2016-115818 2016-115819 2016-106563 2016-106686 2016-109485 2016-111166 2016-106214 2016-105433
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6月12日(木) -
6月12日(木) -
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6月13日(金) -
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6月16日(月) - 東京 大田
6月17日(火) -
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6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月19日(木) -
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) -
6月20日(金) - 愛知 名古屋市
6月16日(月) - 東京 大田
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