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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第138位 386件
（
2016年：第182位 243件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第90位 339件
（
2016年：第89位 360件）
（ランキング更新日：2025年1月17日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2017-199451 | 荷電粒子線装置 | 2017年11月 2日 | |
| 特開 2017-199452 | 荷電粒子線装置 | 2017年11月 2日 | |
| 特開 2017-199453 | 荷電粒子線装置 | 2017年11月 2日 | |
| 特開 2017-199606 | 荷電粒子線装置 | 2017年11月 2日 | |
| 再表 2016-103432 | 複合荷電粒子線装置およびその制御方法 | 2017年10月26日 | |
| 再表 2016-117104 | パターン測定装置及び欠陥検査装置 | 2017年10月26日 | |
| 再表 2016-135798 | 核酸分析装置 | 2017年10月26日 | |
| 再表 2016-120951 | 光学的分析装置 | 2017年10月19日 | |
| 特開 2017-191758 | 電子顕微鏡装置 | 2017年10月19日 | |
| 再表 2016-136377 | 自動分析装置 | 2017年10月12日 | |
| 特開 2017-187505 | 検体処理システム | 2017年10月12日 | |
| 特開 2017-176432 | 情報処理装置、情報処理方法、情報処理プログラムおよび情報処理システム | 2017年10月 5日 | |
| 特開 2017-176464 | 磁界計測装置、磁界計測方法、磁界計測プログラム | 2017年10月 5日 | |
| 特開 2017-181237 | 蛍光試薬および観察方法 | 2017年10月 5日 | |
| 特開 2017-181242 | 自動分析装置および自動分析方法 | 2017年10月 5日 |
386 件中 46-60 件を表示
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2017-199451 2017-199452 2017-199453 2017-199606 2016-103432 2016-117104 2016-135798 2016-120951 2017-191758 2016-136377 2017-187505 2017-176432 2017-176464 2017-181237 2017-181242
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