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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第138位 386件
（
2016年：第182位 243件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第90位 339件
（
2016年：第89位 360件）
（ランキング更新日：2026年3月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6253477 | プラズマ処理方法 | 2017年12月27日 | |
| 特許 6254060 | 荷電粒子線装置用垂直移動ステージ及び荷電粒子線装置 | 2017年12月27日 | |
| 特許 6254445 | 荷電粒子ビーム装置 | 2017年12月27日 | |
| 特許 6255152 | 検査装置 | 2017年12月27日 | |
| 特許 6255216 | 電気化学測定装置 | 2017年12月27日 | |
| 特許 6255339 | 自動分析装置 | 2017年12月27日 | |
| 特許 6255448 | 荷電粒子線装置の装置条件設定方法、および荷電粒子線装置 | 2017年12月27日 | |
| 特許 6255494 | 電子顕微鏡、及び、試料の観察方法 | 2017年12月27日 | |
| 特許 6249626 | 自動分析装置 | 2017年12月20日 | |
| 特許 6249653 | 自動分析装置 | 2017年12月20日 | |
| 特許 6250105 | 電解質分析装置及び電解質分析方法 | 2017年12月20日 | |
| 特許 6251525 | 荷電粒子線装置 | 2017年12月20日 | |
| 特許 6245848 | 自動分析装置 | 2017年12月13日 | |
| 特許 6246393 | 荷電粒子線装置、設置方法 | 2017年12月13日 | |
| 特許 6247064 | 生体分子計測装置 | 2017年12月13日 |
341 件中 1-15 件を表示
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6253477 6254060 6254445 6255152 6255216 6255339 6255448 6255494 6249626 6249653 6250105 6251525 6245848 6246393 6247064
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