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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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 ■ 2025年 出願公開件数ランキング    第204位 168件 (上昇2024年:第273位 126件)

 ■ 2025年 特許取得件数ランキング    第80位 319件 (上昇2024年:第83位 368件)

(ランキング更新日:2026年10月9日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 7765340 放射性核種製造システムおよび放射性核種製造方法 2025年11月 6日
特許 7765260 ラック把持装置 2025年11月 6日
特許 7763978 エッチング方法 2025年11月 4日
特許 7763739 距離計測方法、距離計測装置、並びに距離計測システム 2025年11月 4日
特許 7763352 試料表面品質管理装置 2025年10月31日
特許 7762593 プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 2025年10月30日
特許 7761763 荷電粒子ビームシステム、および試料評価情報生成方法 2025年10月28日
特許 7761751 分注装置及び自動分析装置 2025年10月28日
特許 7761728 プラズマ処理装置 2025年10月28日
特許 7761202 監視システム 2025年10月28日
特許 7760750 解析システムおよび粒子の解析方法 2025年10月27日
特許 7760675 自動分析システム 2025年10月27日
特許 7760044 荷電粒子線装置の調整方法及び荷電粒子線装置 2025年10月24日
特許 7760038 自動分析装置 2025年10月24日
特許 7757540 イオンミリング装置及びそれを用いた加工方法 2025年10月21日

323 件中 46-60 件を表示

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7765340 7765260 7763978 7763739 7763352 7762593 7761763 7761751 7761728 7761202 7760750 7760675 7760044 7760038 7757540

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