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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第259位 138件
（
2021年：第126位 332件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第85位 351件
（
2021年：第118位 240件）
（ランキング更新日：2025年3月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7198166 | イオン源異常検出装置、およびそれを用いた質量分析装置 | 2022年12月28日 | |
| 特許 7198196 | 計測装置及び計測方法 | 2022年12月28日 | |
| 特許 7198360 | 荷電粒子線装置 | 2022年12月28日 | |
| 特許 7197698 | 荷電粒子線装置 | 2022年12月27日 | |
| 特許 7195359 | 自動分析装置 | 2022年12月23日 | |
| 特許 7195428 | 自動分析装置 | 2022年12月23日 | |
| 特許 7195452 | 自動分析装置 | 2022年12月23日 | |
| 特許 7194837 | 荷電粒子線装置 | 2022年12月22日 | |
| 特許 7193564 | 自動分析装置及び自動分析方法 | 2022年12月20日 | |
| 特許 7191971 | 検体搬送装置、システム、及び方法 | 2022年12月19日 | |
| 特許 7190586 | 試料ホルダ、試料ホルダの使用方法、突出量調整治具、突出量の調整方法および荷電粒子線装置 | 2022年12月15日 | |
| 特許 7190061 | 電源供給モジュールおよび荷電粒子ビーム装置 | 2022年12月14日 | |
| 特許 7189103 | 荷電粒子線装置 | 2022年12月13日 | |
| 特許 7189339 | 自動分析装置 | 2022年12月13日 | |
| 特許 7189365 | 荷電粒子顕微鏡装置およびその視野調整方法 | 2022年12月13日 |
351 件中 1-15 件を表示
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7198166 7198196 7198360 7197698 7195359 7195428 7195452 7194837 7193564 7191971 7190586 7190061 7189103 7189339 7189365
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