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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2025年11月28日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5645934 | 荷電粒子線装置および防音カバー | 2014年12月24日 | |
| 特許 5645771 | 質量分析装置 | 2014年12月24日 | |
| 特許 5645829 | 信号処理装置、質量分析装置及び光度計 | 2014年12月24日 | |
| 特許 5644006 | 処理時間の予測方法および自動分析システム | 2014年12月24日 | |
| 特許 5641463 | 欠陥検査装置及びその方法 | 2014年12月17日 | |
| 特許 5643339 | 自動分析装置 | 2014年12月17日 | 共同出願 |
| 特許 5642427 | プラズマ処理方法 | 2014年12月17日 | |
| 特許 5637841 | 検査装置 | 2014年12月10日 | |
| 特許 5638024 | 検体搬送システム | 2014年12月10日 | |
| 特許 5639590 | 走査型電子顕微鏡及び試料観察方法 | 2014年12月10日 | |
| 特許 5640135 | プラズマ処理装置 | 2014年12月10日 | |
| 特許 5640027 | オーバーレイ計測方法、計測装置、走査型電子顕微鏡およびＧＵＩ | 2014年12月10日 | |
| 特許 5639797 | パターンマッチング方法，画像処理装置、及びコンピュータプログラム | 2014年12月10日 | |
| 特許 5638098 | 検査装置、及び検査条件取得方法 | 2014年12月10日 | |
| 特許 5639925 | パターンマッチング装置、及びコンピュータープログラム | 2014年12月10日 |
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5645934 5645771 5645829 5644006 5641463 5643339 5642427 5637841 5638024 5639590 5640135 5640027 5639797 5638098 5639925
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