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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2023年 出願公開件数ランキング    第263位 136件 下降2022年:第259位 138件)

  2023年 特許取得件数ランキング    第87位 361件 下降2022年:第85位 351件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 7405984 自動分析装置 2023年12月26日
特許 7406009 電子銃および電子線応用装置 2023年12月26日
特許 7406045 装置診断装置、半導体製造装置システムおよび半導体装置製造システム 2023年12月26日
特許 7404399 欠陥検査システムおよび欠陥検査方法 2023年12月25日
特許 7404404 学習処理装置及び方法 2023年12月25日
特許 7403652 自動分析装置及び分析方法 2023年12月22日
特許 7403678 電子源とその製造方法およびそれを用いた電子線装置 2023年12月22日
特許 7402875 自動分析装置 2023年12月21日
特許 7399235 パターン検査システム 2023年12月15日
特許 7399256 自動分析装置 2023年12月15日
特許 7399330 自動分析装置、及びその洗浄方法 2023年12月15日
特許 7398480 画像を生成するシステム、及び非一時的コンピュータ可読媒体 2023年12月14日
特許 7397988 搬送容器および搬送方法 2023年12月13日
特許 7396954 荷電粒子線装置 2023年12月12日
特許 7397206 半導体製造装置のクリーニング方法 2023年12月12日

363 件中 1-15 件を表示

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7405984 7406009 7406045 7404399 7404404 7403652 7403678 7402875 7399235 7399256 7399330 7398480 7397988 7396954 7397206

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