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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7405984 | 自動分析装置 | 2023年12月26日 | |
特許 7406009 | 電子銃および電子線応用装置 | 2023年12月26日 | |
特許 7406045 | 装置診断装置、半導体製造装置システムおよび半導体装置製造システム | 2023年12月26日 | |
特許 7404399 | 欠陥検査システムおよび欠陥検査方法 | 2023年12月25日 | |
特許 7404404 | 学習処理装置及び方法 | 2023年12月25日 | |
特許 7403652 | 自動分析装置及び分析方法 | 2023年12月22日 | |
特許 7403678 | 電子源とその製造方法およびそれを用いた電子線装置 | 2023年12月22日 | |
特許 7402875 | 自動分析装置 | 2023年12月21日 | |
特許 7399235 | パターン検査システム | 2023年12月15日 | |
特許 7399256 | 自動分析装置 | 2023年12月15日 | |
特許 7399330 | 自動分析装置、及びその洗浄方法 | 2023年12月15日 | |
特許 7398480 | 画像を生成するシステム、及び非一時的コンピュータ可読媒体 | 2023年12月14日 | |
特許 7397988 | 搬送容器および搬送方法 | 2023年12月13日 | |
特許 7396954 | 荷電粒子線装置 | 2023年12月12日 | |
特許 7397206 | 半導体製造装置のクリーニング方法 | 2023年12月12日 |
363 件中 1-15 件を表示
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7405984 7406009 7406045 7404399 7404404 7403652 7403678 7402875 7399235 7399256 7399330 7398480 7397988 7396954 7397206
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