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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第177位 270件
（
2018年：第194位 224件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第110位 254件
（2018年：第121位 246件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6625891 | 真空処理装置 | 2019年12月25日 | |
| 特許 6626642 | 自動分析装置 | 2019年12月25日 | |
| 特許 6622665 | 電解質濃度測定装置 | 2019年12月18日 | |
| 特許 6622921 | 文字列辞書の構築方法、文字列辞書の検索方法、および、文字列辞書の処理システム | 2019年12月18日 | |
| 特許 6623315 | プラズマ処理装置 | 2019年12月18日 | |
| 特許 6617214 | プラズマ処理方法 | 2019年12月11日 | |
| 特許 6619080 | 自動分析装置 | 2019年12月11日 | |
| 特許 6619092 | 細胞の立体構造体の作製装置及び作製方法 | 2019年12月11日 | |
| 特許 6619328 | ピンチバルブおよびピンチバルブを備えた自動分析装置 | 2019年12月11日 | |
| 特許 6619544 | 検査装置 | 2019年12月11日 | |
| 特許 6620078 | プラズマ処理装置 | 2019年12月11日 | |
| 特許 6620170 | 荷電粒子線装置およびその光軸調整方法 | 2019年12月11日 | |
| 特許 6615320 | 自動分析装置 | 2019年12月 4日 | |
| 特許 6616803 | 磁気抵抗素子の製造方法、及び磁気抵抗素子 | 2019年12月 4日 | |
| 特許 6611365 | 自動分析装置 | 2019年11月27日 |
255 件中 1-15 件を表示
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6625891 6626642 6622665 6622921 6623315 6617214 6619080 6619092 6619328 6619544 6620078 6620170 6615320 6616803 6611365
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