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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第107位 423件
（
2014年：第59位 659件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第95位 287件
（2014年：第54位 625件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5836221 | 荷電粒子線装置 | 2015年12月24日 | |
| 特許 5836232 | 荷電粒子線装置、及び収差補正方法 | 2015年12月24日 | |
| 特許 5836468 | 検体処理システム | 2015年12月24日 | |
| 特許 5836838 | 荷電粒子線装置 | 2015年12月24日 | |
| 特許 5836850 | 自動分析装置 | 2015年12月24日 | |
| 特許 5837429 | 核酸分析用反応デバイスの再生方法およびその方法に用いる洗浄機構を有する核酸分析装置 | 2015年12月24日 | |
| 特許 5837449 | 核酸検査装置、検査待ち反応容器の割り当て決定方法及びプログラム | 2015年12月24日 | |
| 特許 5838054 | プラズマ処理装置 | 2015年12月24日 | |
| 特許 5838106 | 荷電粒子線装置用防音カバー及び荷電粒子線装置 | 2015年12月24日 | |
| 特許 5838138 | 欠陥観察システムおよび欠陥観察方法 | 2015年12月24日 | |
| 特許 5832374 | 走査プローブ顕微鏡のカンチレバー及びその製造方法、並びに熱アシスト磁気ヘッド素子の検査方法及びその装置 | 2015年12月16日 | |
| 特許 5828728 | 自動分析装置 | 2015年12月 9日 | |
| 特許 5830395 | 液体分注装置 | 2015年12月 9日 | |
| 特許 5830601 | ガス電界電離イオン源およびイオンビーム装置 | 2015年12月 9日 | |
| 特許 5825964 | 検査又は観察装置及び試料の検査又は観察方法 | 2015年12月 2日 |
288 件中 1-15 件を表示
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5836221 5836232 5836468 5836838 5836850 5837429 5837449 5838054 5838106 5838138 5832374 5828728 5830395 5830601 5825964
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