株式会社東京精密
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（
2020年：第292位 135件）
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（
2020年：第262位 107件）
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株式会社東京精密の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6846670 | 表面測定機用手動送り機構 | 2021年 3月24日 | |
| 特許 6846672 | 三次元座標測定装置 | 2021年 3月24日 | |
| 特許 6846673 | 表面形状測定装置の角度補正方法及び角度補正装置 | 2021年 3月24日 | |
| 特許 6848166 | 検出器、輪郭形状測定機及び触針の接触制御方法 | 2021年 3月24日 | |
| 特許 6848167 | 表面形状測定機の校正方法及び校正装置 | 2021年 3月24日 | |
| 特許 6848168 | 表面形状測定機の校正装置 | 2021年 3月24日 | |
| 特許 6843344 | 表面粗さ測定システム | 2021年 3月17日 | |
| 特許 6843345 | プローバ | 2021年 3月17日 | |
| 特許 6843514 | 小型デジタル測長器 | 2021年 3月17日 | |
| 特許 6843553 | ウェハの表面処理方法 | 2021年 3月17日 | |
| 特許 6843554 | ウェハの表面処理装置 | 2021年 3月17日 | |
| 特許 6843699 | 識別装置及び識別方法 | 2021年 3月17日 | |
| 特許 6834116 | 距離測定装置及び距離測定方法 | 2021年 2月24日 | |
| 特許 6829806 | ワーク分割装置及びワーク分割方法 | 2021年 2月17日 | |
| 特許 6826750 | 撮像装置及び加工制御システム | 2021年 2月10日 |
104 件中 76-90 件を表示
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6846670 6846672 6846673 6848166 6848167 6848168 6843344 6843345 6843514 6843553 6843554 6843699 6834116 6829806 6826750
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（オンライン参加可）体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする？～海外で商標権がバッティング？オープンファクトリーの知財リスク？～
2月18日(火) -
2月19日(水) - 東京 港区
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
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（オンライン参加可）体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする？～海外で商標権がバッティング？オープンファクトリーの知財リスク？～
2月25日(火) -
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