ホーム > 特許ランキング > マッパー・リソグラフィー・アイピー・ビー.ブイ. > 2015年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(マッパー・リソグラフィー・アイピー・ビー.ブイ.)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2015年 出願公開件数ランキング 第1851位 12件 (2014年:第870位 33件)
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第976位 21件 (2014年:第1347位 19件)
(ランキング更新日:2024年11月11日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特表 2015-530587 | 多軸微分干渉計 | 2015年10月15日 | |
特開 2015-181179 | デュアルパス走査 | 2015年10月15日 | |
特表 2015-521385 | 荷電粒子マルチ小ビームリソグラフィシステム及び冷却装置製造方法 | 2015年 7月27日 | |
特表 2015-518268 | ラジカルを輸送するための装置および方法 | 2015年 6月25日 | |
特表 2015-517734 | マルチ小ビーム露光装置において小ビーム位置を測定するための方法及び2つの小ビーム間の距離を測定するための方法 | 2015年 6月22日 | |
特表 2015-517735 | 荷電粒子リソグラフィシステムおよびビーム発生器 | 2015年 6月22日 | |
特表 2015-516689 | 変調デバイスおよび電力供給装置 | 2015年 6月11日 | |
特表 2015-516690 | 荷電粒子リソグラフィシステムおよびビーム発生器 | 2015年 6月11日 | |
特表 2015-513219 | ウェーハなどのターゲットを処理するためのリソグラフィシステム及び方法 | 2015年 4月30日 | |
特開 2015-79979 | 静電容量感知システム | 2015年 4月23日 | |
特表 2015-510690 | ナイフエッジを使用したウェーハレベルでのスポットサイズ測定のための装置、及びこのような装置を製造するための方法 | 2015年 4月 9日 | |
特表 2015-509666 | アライメントセンサーとビーム測定センサーを備えている荷電粒子リソグラフィシステム | 2015年 3月30日 |
12 件中 1-12 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2015-530587 2015-181179 2015-521385 2015-518268 2015-517734 2015-517735 2015-516689 2015-516690 2015-513219 2015-79979 2015-510690 2015-509666
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。マッパー・リソグラフィー・アイピー・ビー.ブイ.の知財の動向チェックに便利です。
11月11日(月) -
11月12日(火) - 東京 港区
11月12日(火) - 大阪 大阪市
11月13日(水) - 東京 港区
11月13日(水) - 福井 福井市
11月13日(水) -
11月13日(水) -
11月13日(水) -
11月13日(水) -
11月13日(水) -
11月14日(木) - 東京 港区
11月14日(木) - 愛知 名古屋市
11月14日(木) - 東京 中央区
11月15日(金) - 東京 港区
11月15日(金) -
11月15日(金) - 東京 港区
11月15日(金) -
11月15日(金) -
11月16日(土) - 東京 中央区
11月11日(月) -
11月18日(月) -
11月19日(火) -
11月19日(火) - 東京 港区
11月19日(火) - 大阪 大阪市
11月19日(火) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月21日(木) - 東京 港区
11月21日(木) -
11月21日(木) -
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月18日(月) -
〒166-0003 東京都杉並区高円寺南2-50-2 YSビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
大阪府大阪市北区西天満3丁目5-10 オフィスポート大阪801号 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 コンサルティング
愛知県小牧市小牧4丁目225番地2 澤屋清七ビル3 206 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング