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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2013-208965	検測用パンタグラフ装置並びに架線検測方法及び装置	2013年10月10日
特開 2013-209700	真空蒸着装置及びその方法	2013年10月10日
特開 2013-211139	成膜装置及び成膜方法	2013年10月10日
特開 2013-211138	蒸発源、及びそれを用いた真空蒸着装置	2013年10月10日
特開 2013-210393	欠陥検査方法及び欠陥検査装置	2013年10月10日
特開 2013-208964	架線検測方法及び装置並びに架線検測車	2013年10月10日
特開 2013-210419	回折格子およびその製造方法	2013年10月10日
特開 2013-210237	基板検査方法及び装置	2013年10月10日
特開 2013-209699	真空蒸着装置および真空蒸着方法	2013年10月10日
特開 2013-210241	ディスク表面検査方法及びその装置	2013年10月10日
特開 2013-210232	磁気メディアの光学式検査方法及びその装置	2013年10月10日
特開 2013-210229	検査装置及び撮像素子	2013年10月10日
特開 2013-210231	ディスク表面検査方法及びその装置	2013年10月10日
特開 2013-209698	蒸着装置	2013年10月10日
特開 2013-210238	基板検査方法及び装置	2013年10月10日

716 件中 136-150 件を表示

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2013-208965 2013-209700 2013-211139 2013-211138 2013-210393 2013-208964 2013-210419 2013-210237 2013-209699 2013-210241 2013-210232 2013-210229 2013-210231 2013-209698 2013-210238

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