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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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　■　2013年出願公開件数ランキング　　　第59位　716件（2012年：第54位　709件）

　■　2013年特許取得件数ランキング　　　第51位　717件（2012年：第71位　547件）

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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2013-225680	Ｈｉｇｈ−ｋ膜のドライエッチング方法	2013年10月31日
特開 2013-225624	プラズマエッチング方法	2013年10月31日
特開 2013-224957	検査装置	2013年10月31日
特開 2013-225604	ドライエッチング方法	2013年10月31日
特開 2013-225618	半導体欠陥分類装置及び半導体欠陥分類装置用のプログラム	2013年10月31日
特開 2013-224988	ＦＰＤモジュール組立装置	2013年10月31日
再表 2012-29834	検体移載機構	2013年10月31日
特開 2013-225596	半導体検査装置及び通信輻輳防止方法	2013年10月31日
特開 2013-224948	検査装置、及びアライメント装置	2013年10月31日
特開 2013-223820	磁気分離装置およびこれを備えた自動分析装置、及び分離方法	2013年10月31日
特開 2013-224961	半導体ウェハ検査装置	2013年10月31日
特開 2013-225521	電子銃	2013年10月31日
特開 2013-225419	荷電粒子線装置	2013年10月31日
特開 2013-225545	ＦＰＤモジュール組立装置、および、圧着ヘッド制御方法	2013年10月31日
特開 2013-225530	荷電粒子線装置	2013年10月31日

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2013-225680 2013-225624 2013-224957 2013-225604 2013-225618 2013-224988 2012-29834 2013-225596 2013-224948 2013-223820 2013-224961 2013-225521 2013-225419 2013-225545 2013-225530

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