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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2021年1月14日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5567526 | 分析装置および分析方法 | 2014年 8月 6日 | |
| 特許 5568320 | 検査装置および検査方法 | 2014年 8月 6日 | |
| 特許 5568444 | 欠陥検査方法、微弱光検出方法および微弱光検出器 | 2014年 8月 6日 | |
| 特許 5568667 | プラズマ処理方法 | 2014年 8月 6日 | |
| 特許 5566778 | 荷電粒子線装置、試料台ホルダー及び試料断面作製方法 | 2014年 8月 6日 | |
| 特許 5568277 | パターンマッチング方法、及びパターンマッチング装置 | 2014年 8月 6日 | |
| 特許 5562348 | 開栓装置及びそれを用いた自動分析装置 | 2014年 7月30日 | |
| 特許 5564276 | パターンマッチング用画像作成装置 | 2014年 7月30日 | |
| 特許 5564403 | 荷電粒子線装置 | 2014年 7月30日 | |
| 特許 5563957 | 分析装置 | 2014年 7月30日 | |
| 特許 5564271 | 真空処理装置 | 2014年 7月30日 | |
| 特許 5564037 | 自動分析装置 | 2014年 7月30日 | |
| 特許 5562421 | 自動分析装置、分析方法及び情報処理装置 | 2014年 7月30日 | |
| 特許 5560143 | 検査装置および検査方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5557516 | 真空処理装置 | 2014年 7月23日 |
625 件中 136-150 件を表示
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5567526 5568320 5568444 5568667 5566778 5568277 5562348 5564276 5564403 5563957 5564271 5564037 5562421 5560143 5557516
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