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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2014年 出願公開件数ランキング    第59位 659件 変わらず2013年:第59位 716件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第54位 625件 下降2013年:第51位 717件)

(ランキング更新日:2021年1月14日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5567526 分析装置および分析方法 2014年 8月 6日
特許 5568320 検査装置および検査方法 2014年 8月 6日
特許 5568444 欠陥検査方法、微弱光検出方法および微弱光検出器 2014年 8月 6日
特許 5568667 プラズマ処理方法 2014年 8月 6日
特許 5566778 荷電粒子線装置、試料台ホルダー及び試料断面作製方法 2014年 8月 6日
特許 5568277 パターンマッチング方法、及びパターンマッチング装置 2014年 8月 6日
特許 5562348 開栓装置及びそれを用いた自動分析装置 2014年 7月30日
特許 5564276 パターンマッチング用画像作成装置 2014年 7月30日
特許 5564403 荷電粒子線装置 2014年 7月30日
特許 5563957 分析装置 2014年 7月30日
特許 5564271 真空処理装置 2014年 7月30日
特許 5564037 自動分析装置 2014年 7月30日
特許 5562421 自動分析装置、分析方法及び情報処理装置 2014年 7月30日
特許 5560143 検査装置および検査方法 2014年 7月23日
特許 5557516 真空処理装置 2014年 7月23日

625 件中 136-150 件を表示

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5567526 5568320 5568444 5568667 5566778 5568277 5562348 5564276 5564403 5563957 5564271 5564037 5562421 5560143 5557516

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