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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2025年6月3日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5557772 | 液面検知装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5557933 | 検体処理システム | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5559957 | パターン測定方法及びパターン測定装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5557760 | 検体処理システム | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5557501 | 検体搬送装置及びＲＦタグアンテナ | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5557750 | 自動分析装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5557751 | 精度管理方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5560148 | 検査装置、及び位置決め装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5560280 | 検体前処理搬送システム | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5560033 | 冷却試料ホールダ及び試料の冷却加工方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5557817 | 蒸発源および成膜装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5559010 | 遺伝子配列解析装置および遺伝子配列解析方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5554418 | 自動分析装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5554753 | 露光方法及びその装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5560285 | 試料処理装置、試料処理システム及び試料の処理方法 | 2014年 7月23日 |
625 件中 151-165 件を表示
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5557772 5557933 5559957 5557760 5557501 5557750 5557751 5560148 5560280 5560033 5557817 5559010 5554418 5554753 5560285
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