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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2025年2月18日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5537460 | 荷電粒子線顕微鏡及びそれを用いた計測画像の補正方法 | 2014年 7月 2日 | |
| 特許 5537448 | 荷電粒子線装置、及び画像解析装置 | 2014年 7月 2日 | |
| 特許 5537288 | 電子ビームの照射方法及び走査電子顕微鏡 | 2014年 7月 2日 | |
| 特許 5531010 | 自動分析装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5530731 | 自動分析装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5530609 | 前処理装置及びそれを備えた質量分析装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5530601 | 走査型電子顕微鏡を用いた回路パターンの寸法計測装置およびその方法 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5530531 | 質量分析装置および質量分析方法 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5529051 | 質量分析技術を用いた免疫分析方法および免疫分析システム | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5529965 | パターンマッチング用テンプレートの作成方法、及び画像処理装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5532425 | 荷電粒子装置用試料ホルダ | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5530811 | 走査電子顕微鏡装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5530794 | 真空処理装置及びプラズマ処理方法 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5525421 | 画像撮像装置および画像撮像方法 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5525319 | エッチング方法およびエッチング装置 | 2014年 6月18日 |
625 件中 211-225 件を表示
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5537460 5537448 5537288 5531010 5530731 5530609 5530601 5530531 5529051 5529965 5532425 5530811 5530794 5525421 5525319
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