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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2014年 出願公開件数ランキング    第59位 659件 変わらず2013年:第59位 716件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第54位 625件 下降2013年:第51位 717件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5537460 荷電粒子線顕微鏡及びそれを用いた計測画像の補正方法 2014年 7月 2日
特許 5537448 荷電粒子線装置、及び画像解析装置 2014年 7月 2日
特許 5537288 電子ビームの照射方法及び走査電子顕微鏡 2014年 7月 2日
特許 5531010 自動分析装置 2014年 6月25日
特許 5530731 自動分析装置 2014年 6月25日
特許 5530609 前処理装置及びそれを備えた質量分析装置 2014年 6月25日
特許 5530601 走査型電子顕微鏡を用いた回路パターンの寸法計測装置およびその方法 2014年 6月25日
特許 5530531 質量分析装置および質量分析方法 2014年 6月25日
特許 5529051 質量分析技術を用いた免疫分析方法および免疫分析システム 2014年 6月25日
特許 5529965 パターンマッチング用テンプレートの作成方法、及び画像処理装置 2014年 6月25日
特許 5532425 荷電粒子装置用試料ホルダ 2014年 6月25日
特許 5530811 走査電子顕微鏡装置 2014年 6月25日
特許 5530794 真空処理装置及びプラズマ処理方法 2014年 6月25日
特許 5525421 画像撮像装置および画像撮像方法 2014年 6月18日
特許 5525319 エッチング方法およびエッチング装置 2014年 6月18日

625 件中 211-225 件を表示

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5537460 5537448 5537288 5531010 5530731 5530609 5530601 5530531 5529051 5529965 5532425 5530811 5530794 5525421 5525319

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