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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2025年2月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5525528 | パターン評価方法、その装置、及び電子線装置 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5525336 | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5525128 | 荷電粒子線応用装置及び試料観察方法 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5525054 | 検体移載機構 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5524698 | 自動分析装置 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5525421 | 画像撮像装置および画像撮像方法 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5525319 | エッチング方法およびエッチング装置 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5524229 | 荷電粒子線装置 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5519786 | 検体検査自動化システム | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5517807 | 分析装置 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5517467 | 自動分析装置 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5517160 | 自動分析装置 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5520644 | ディスククランプ機構、磁気ヘッド及び磁気ディスク検査装置 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5519421 | 走査型電子顕微鏡及びその制御方法 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5517584 | 電子顕微鏡 | 2014年 6月11日 |
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5525528 5525336 5525128 5525054 5524698 5525421 5525319 5524229 5519786 5517807 5517467 5517160 5520644 5519421 5517584
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