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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2024年12月2日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5511025 | 検体処理自動化システム | 2014年 6月 4日 | |
| 特許 5509255 | 試料検査装置及び吸収電流像の作成方法 | 2014年 6月 4日 | |
| 特許 5514472 | 荷電粒子線装置 | 2014年 6月 4日 | |
| 特許 5509239 | イオンビーム加工装置及び加工方法 | 2014年 6月 4日 | |
| 特許 5502009 | トロリ線測定方法及び装置 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5506203 | 表示パネル基板搬送装置及び表示パネルモジュール組立装置 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5507534 | イオン濃度測定装置及びイオン濃度測定素子 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5507421 | 質量分析装置 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5506189 | 自動分析装置 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5505983 | 自動分析装置 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5502569 | 走査電子顕微鏡 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5506202 | 荷電粒子ビーム装置 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5508497 | ステージ装置 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5506699 | 荷電ビーム装置 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5506345 | 荷電粒子線顕微鏡および当該荷電粒子顕微鏡の制御方法 | 2014年 5月28日 |
625 件中 256-270 件を表示
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5511025 5509255 5514472 5509239 5502009 5506203 5507534 5507421 5506189 5505983 5502569 5506202 5508497 5506699 5506345
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12月10日(火) - 東京 港区
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12月13日(金) - 東京 品川
12月13日(金) -
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