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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特許 5372445 | 走査型電子顕微鏡装置およびその焦点あわせ方法 | 2013年12月18日 | |
特許 5371534 | レーザ加工方法、レーザ加工装置及びソーラパネル製造方法 | 2013年12月18日 | |
特許 5371514 | レーザ光状態検査方法及び装置並びにソーラパネル製造方法 | 2013年12月18日 | |
特許 5372856 | 荷電粒子線装置 | 2013年12月18日 | |
特許 5372418 | 核酸分析装置,自動分析装置、及び分析方法 | 2013年12月18日 | |
特許 5373573 | 自動分析装置、および自動分析装置の光源ランプ交換方法 | 2013年12月18日 | |
特許 5371903 | 磁気ディスクの検査方法及びその装置 | 2013年12月18日 | |
特許 5372365 | 検査装置及び検査方法 | 2013年12月18日 | |
特許 5372618 | パターン付き基板検査装置およびパターン付き基板検査方法 | 2013年12月18日 | |
特許 5372787 | 電子顕微鏡 | 2013年12月18日 | |
特許 5372876 | 核酸分析デバイス,核酸分析装置、及び核酸分析方法 | 2013年12月18日 | |
特許 5372570 | ナノポアを用いたバイオポリマー決定方法、システム、及びキット | 2013年12月18日 | |
特許 5373868 | 自動分析装置用反応セルの製造方法 | 2013年12月18日 | |
特許 5371859 | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板支持方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2013年12月18日 | |
特許 5371590 | 実装処理作業装置及び表示基板モジュール組立ライン | 2013年12月18日 |
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5372445 5371534 5371514 5372856 5372418 5373573 5371903 5372365 5372618 5372787 5372876 5372570 5373868 5371859 5371590
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11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
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11月27日(水) -
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11月27日(水) -
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11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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