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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2014年 出願公開件数ランキング    第59位 659件 変わらず2013年:第59位 716件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第54位 625件 下降2013年:第51位 717件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5639925 パターンマッチング装置、及びコンピュータープログラム 2014年12月10日
特許 5637953 核酸分析用反応デバイス 2014年12月10日
特許 5640135 プラズマ処理装置 2014年12月10日
特許 5638098 検査装置、及び検査条件取得方法 2014年12月10日
特許 5638070 走査型電子顕微鏡 2014年12月10日
特許 5636315 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 2014年12月 3日
特許 5635130 単分子プローブ核酸付き微粒子及びその製造方法、並びに核酸分析方法 2014年12月 3日
特許 5636053 ガス電界電離イオン源及びその使用方法、並びに、イオンビーム装置 2014年12月 3日
特許 5636442 自動分析装置 2014年12月 3日 共同出願
特許 5632316 質量分析装置及びそれに用いられるイオン源 2014年11月26日
特許 5631642 車両寸法測定方法及び装置 2014年11月26日
特許 5632186 稠密スロット透過型電極体を用いたプラズマ処理装置 2014年11月26日
特許 5629782 検査装置 2014年11月26日
特許 5628010 欠陥検査装置、判定条件構築装置及び欠陥検査方法 2014年11月19日
特許 5628862 イオンビーム加工装置 2014年11月19日

625 件中 16-30 件を表示

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5639925 5637953 5640135 5638098 5638070 5636315 5635130 5636053 5636442 5632316 5631642 5632186 5629782 5628010 5628862

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