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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2024年12月2日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5501514 | 電子顕微鏡設定システム | 2014年 5月21日 | |
| 特許 5501303 | レシピ生成装置、検査支援装置、検査システムならびに記録媒体。 | 2014年 5月21日 | |
| 特許 5500868 | 走査電子顕微鏡、および走査電子顕微鏡における像表示方法 | 2014年 5月21日 | |
| 特許 5498488 | 荷電粒子線応用装置及び試料観察方法 | 2014年 5月21日 | |
| 特許 5497980 | 荷電粒子線応用装置、及び試料検査方法 | 2014年 5月21日 | |
| 特許 5497615 | 質量分析装置 | 2014年 5月21日 | |
| 特許 5488695 | 試料分析装置及び試料分析方法 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5492162 | 微細構造転写装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5491996 | 平坦な封止面を有する封止部材及びその加工方法 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5491995 | 封止溝を有する部材及びその加工用の加工具 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5492120 | 蒸発源および蒸着装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5493044 | 荷電粒子線装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5491639 | イオンミリング装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5488479 | 検体トレー | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5493029 | 荷電粒子線応用装置 | 2014年 5月14日 |
625 件中 286-300 件を表示
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5501514 5501303 5500868 5498488 5497980 5497615 5488695 5492162 5491996 5491995 5492120 5493044 5491639 5488479 5493029
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12月13日(金) - 東京 品川
12月13日(金) -
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