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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2025年2月28日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5492405 | 荷電粒子線装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5492383 | 走査型電子顕微鏡及びこれを用いたパターン寸法計測方法 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5489298 | 表面検査装置及び表面検査方法 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5489295 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線照射方法 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5489283 | 自動分析装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5488479 | 検体トレー | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5493044 | 荷電粒子線装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5493029 | 荷電粒子線応用装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5492306 | 電子ビーム装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5491639 | イオンミリング装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5490333 | 荷電粒子線装置、荷電粒子線装置の試料観察方法および荷電粒子線装置の表示制御プログラム | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5487324 | 自動分析装置 | 2014年 5月 7日 | |
| 特許 5487275 | 自動分析装置 | 2014年 5月 7日 | |
| 特許 5487176 | 自動分析装置 | 2014年 5月 7日 | |
| 特許 5487143 | 検体ラック搬送制御方法 | 2014年 5月 7日 |
625 件中 301-315 件を表示
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5492405 5492383 5489298 5489295 5489283 5488479 5493044 5493029 5492306 5491639 5490333 5487324 5487275 5487176 5487143
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