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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2024年12月2日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5486558 | 自動分析装置 | 2014年 5月 7日 | |
| 特許 5483283 | 自動分析装置 | 2014年 5月 7日 | |
| 特許 5485927 | 電子顕微鏡 | 2014年 5月 7日 | |
| 特許 5483286 | 検査装置用の標準ウエハ | 2014年 5月 7日 | |
| 特許 5476337 | 真空処理装置及びプログラム | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5476171 | 真空処理装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5476162 | 真空処理装置及びプログラム | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5481122 | 遠心分離装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5480530 | 微細構造転写方法及び微細構造転写装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5476228 | 光ＣＶＤ装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5476227 | 成膜装置及び成膜方法 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5481402 | 自動分析装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5481115 | 質量分析計及び質量分析方法 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5481107 | 寸法計測装置およびこれを用いた半導体装置の製造方法 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5480399 | 自動分析装置 | 2014年 4月23日 |
625 件中 316-330 件を表示
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5486558 5483283 5485927 5483286 5476337 5476171 5476162 5481122 5480530 5476228 5476227 5481402 5481115 5481107 5480399
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