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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2024年12月2日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5480128 | 試薬容器 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5480110 | イオンミリング装置及びイオンミリング加工方法 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5478681 | 半導体欠陥検査装置ならびにその方法 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5478360 | 自動分析装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5476389 | 自動分析装置、その情報表示方法、および情報表示システム | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5481400 | マイクロミラーデバイスの選別方法、マイクロミラーデバイス選別装置およびマスクレス露光装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5479782 | 欠陥画像処理装置、欠陥画像処理方法、半導体欠陥分類装置および半導体欠陥分類方法 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5478427 | 画像形成装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5479701 | 表示パネルモジュール組立装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5481401 | 走査電子顕微鏡 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5479061 | プラズマ処理装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5478683 | 荷電粒子線の照射方法及び荷電粒子線装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5478426 | 計測または検査装置およびそれを用いた計測または検査方法 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5478385 | コントラスト・ブライトネス調整方法、及び荷電粒子線装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5469900 | ナノ構造体デバイスを利用した計測装置及び計測方法 | 2014年 4月16日 |
625 件中 331-345 件を表示
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5480128 5480110 5478681 5478360 5476389 5481400 5479782 5478427 5479701 5481401 5479061 5478683 5478426 5478385 5469900
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