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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2024年12月5日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5474174 | 回路パターン検査装置 | 2014年 4月16日 | |
| 特許 5473891 | 荷電粒子線装置及び試料作製方法 | 2014年 4月16日 | |
| 特許 5473820 | 基板保持具及び基板搬送システム | 2014年 4月16日 | |
| 特許 5470596 | 機能解除モードと機能拡張モードを有する荷電粒子線装置 | 2014年 4月16日 | |
| 特許 5470408 | 電子分光器を有する透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法 | 2014年 4月16日 | |
| 特許 5470360 | 試料電位情報検出方法及び荷電粒子線装置 | 2014年 4月16日 | |
| 特許 5470194 | 荷電粒子線装置 | 2014年 4月16日 | |
| 特許 5469246 | 走査透過電子顕微鏡 | 2014年 4月16日 | |
| 特許 5469041 | 微細構造転写方法およびその装置 | 2014年 4月 9日 | |
| 特許 5466396 | 外観検査装置 | 2014年 4月 9日 | |
| 特許 5466377 | 欠陥検査装置 | 2014年 4月 9日 | |
| 特許 5466183 | 自動分析装置 | 2014年 4月 9日 | |
| 特許 5463334 | パターン測定方法、及びパターン測定装置 | 2014年 4月 9日 | |
| 特許 5463302 | 電気泳動装置 | 2014年 4月 9日 | |
| 特許 5463239 | 自動分析装置 | 2014年 4月 9日 |
625 件中 361-375 件を表示
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5474174 5473891 5473820 5470596 5470408 5470360 5470194 5469246 5469041 5466396 5466377 5466183 5463334 5463302 5463239
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12月13日(金) - 東京 品川
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