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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2014年 出願公開件数ランキング    第59位 659件 変わらず2013年:第59位 716件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第54位 625件 下降2013年:第51位 717件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5456607 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 2014年 4月 2日
特許 5460386 磁気ヘッド検査方法及び磁気ヘッド製造方法 2014年 4月 2日
特許 5460381 検出回路および検査装置 2014年 4月 2日
特許 5457871 偏心したトラックに対するヘッド位置決め方法およびヘッド位置決め制御装置 2014年 4月 2日
特許 5462958 荷電粒子放出銃及び荷電粒子線装置 2014年 4月 2日
特許 5462875 荷電粒子線顕微鏡及びそれを用いた測定方法 2014年 4月 2日
特許 5462719 電子ビーム検出器,電子ビーム応用装置およびそれを用いた観察方法 2014年 4月 2日
特許 5461148 プラズマエッチング方法及び装置 2014年 4月 2日
特許 5460012 真空排気方法、及び真空装置 2014年 4月 2日
特許 5457754 透過型電極体を用いたプラズマ処理装置 2014年 4月 2日
特許 5456804 搬送容器 2014年 4月 2日
特許 5450269 磁場解析方法、プログラムおよび磁場解析装置 2014年 3月26日
特許 5452214 遺伝子検査装置 2014年 3月26日
特許 5450465 核酸分析装置 2014年 3月26日
特許 5452178 真空蒸着装置、真空蒸着方法、および、有機EL表示装置の製造方法 2014年 3月26日

625 件中 391-405 件を表示

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5456607 5460386 5460381 5457871 5462958 5462875 5462719 5461148 5460012 5457754 5456804 5450269 5452214 5450465 5452178

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