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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2024年12月12日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5451324 | プラズマ処理装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5455941 | 核酸分析用反応デバイス、及び核酸分析装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5453208 | 光電変換素子、欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452749 | 試薬供給機構及びこれを用いる分析装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452571 | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452526 | 自動分析装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452507 | 自動分析装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452392 | 欠陥観察方法及び欠陥観察装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452383 | 生体試料前処理方法及び装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452270 | 寸法計測装置およびこれを用いた半導体装置の製造方法 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452152 | 検査装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452120 | 自動分析装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452088 | 微小接触式プローバ | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452070 | 自動分析装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5451577 | 同心円状パターンの検査装置および検査方法 | 2014年 3月26日 |
625 件中 406-420 件を表示
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5451324 5455941 5453208 5452749 5452571 5452526 5452507 5452392 5452383 5452270 5452152 5452120 5452088 5452070 5451577
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