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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2024年12月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5450337 | 検査装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5450161 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452095 | 磁気ヘッドアッセンブリのハンドリングロボット，磁気ヘッド検査方法および検査装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5455700 | 電界放出電子銃及びその制御方法 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5455694 | 荷電粒子線装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5455462 | プラズマ処理装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5453477 | 樹脂混合用複合フィラー | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5453024 | プラズマエッチング処理方法 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452722 | 収差補正装置およびそれを用いた荷電粒子線装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452446 | 磁界重畳型電子銃および当該磁界重畳型電子銃を備えた荷電粒子線装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452405 | ステージ装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452133 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5450357 | 走査電子顕微鏡 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5450187 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5452521 | 高分解能デジタル・アナログ変換装置及び方法 | 2014年 3月26日 |
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5450337 5450161 5452095 5455700 5455694 5455462 5453477 5453024 5452722 5452446 5452405 5452133 5450357 5450187 5452521
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