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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年6月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5372856 | 荷電粒子線装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5371302 | 単一プローブ分子素子及び単一プローブ分子固定金属微粒子 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5372419 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5372020 | 電子顕微鏡 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5372646 | 自動分析装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5371466 | プラズマ処理方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5372731 | 分析装置および分析装置に用いる検知方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5372618 | パターン付き基板検査装置およびパターン付き基板検査方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5363604 | 化学分析装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5364112 | 荷電粒子線装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5364462 | 荷電粒子線装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5364032 | 走査電子顕微鏡及びそれを用いた試料の観察方法 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5364049 | 荷電粒子ビーム装置、および試料作成方法 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5367482 | 半導体検査装置及び半導体検査方法 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5364528 | パターンマッチング方法、パターンマッチングプログラム、電子計算機、電子デバイス検査装置 | 2013年12月11日 |
717 件中 31-45 件を表示
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5372856 5371302 5372419 5372020 5372646 5371466 5372731 5372618 5363604 5364112 5364462 5364032 5364049 5367482 5364528
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