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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2025年4月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5624825 | 液体クロマトグラフ用ポンプ、および液体クロマトグラフ | 2014年11月12日 | |
| 特許 5622751 | 質量分析装置 | 2014年11月12日 | |
| 特許 5624714 | 基板表面の検査方法及び検査装置 | 2014年11月12日 | |
| 特許 5622398 | ＳＥＭを用いた欠陥検査方法及び装置 | 2014年11月12日 | |
| 特許 5624999 | 走査型電子顕微鏡 | 2014年11月12日 | |
| 特許 5624774 | 走査電子顕微鏡の光学条件設定方法、及び走査電子顕微鏡 | 2014年11月12日 | |
| 特許 5622532 | モータシステム | 2014年11月12日 | |
| 特許 5618851 | イオンミリング装置 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5619002 | イオンミリング装置 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5620634 | 分光測光用樹脂製セルおよびその製造方法 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5619118 | 荷電粒子線装置 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5618938 | 検査装置 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5619120 | 試料搭載装置 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5618638 | プラズマ処理装置または試料載置台 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5619939 | パターン転写方法 | 2014年11月 5日 |
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5624825 5622751 5624714 5622398 5624999 5624774 5622532 5618851 5619002 5620634 5619118 5618938 5619120 5618638 5619939
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