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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2024年12月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5443950 | 細菌コロニー釣菌装置及びその方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5448945 | プラズマ処理装置 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5449886 | 撮像範囲間の重なり判定方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5449701 | 質量分析計 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5448371 | 液体クロマトグラフ分析法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5444092 | 検査方法およびその装置 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5444053 | 多結晶シリコン薄膜検査方法及びその装置 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5443527 | キャピラリアレイユニット及びキャピラリ電気泳動装置 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5449057 | 荷電粒子線応用装置及び転送路の異常の検出方法 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5449994 | プラズマ処理装置 | 2014年 3月19日 | |
| 特許 5439096 | 細菌分類装置および細菌検査前処理装置 | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5439395 | 臨床検査用分析装置 | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5439375 | 校正用標準部材及びそれを用いた走査電子顕微鏡並びに走査電子顕微鏡の校正方法 | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5439302 | 自動分析装置 | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5439106 | 走査荷電粒子顕微鏡を用いたパターン形状評価装置およびその方法 | 2014年 3月12日 |
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5443950 5448945 5449886 5449701 5448371 5444092 5444053 5443527 5449057 5449994 5439096 5439395 5439375 5439302 5439106
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12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
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