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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2014年 出願公開件数ランキング    第59位 659件 変わらず2013年:第59位 716件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第54位 625件 下降2013年:第51位 717件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5432816 自動分析システムおよび装置管理サーバ 2014年 3月 5日
特許 5432186 蛍光検出装置 2014年 3月 5日
特許 5430614 光学装置 2014年 3月 5日
特許 5433524 露光装置及び露光方法並びに表示用パネル基板製造装置及び表示用パネル基板の製造方法 2014年 3月 5日
特許 5430589 露光装置及び露光方法 2014年 3月 5日
特許 5430508 プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の装置内温度制御方法、及び表示用パネル基板の製造方法 2014年 3月 5日
特許 5433260 複合磁気ヘッドの書込幅及び/又は読出幅の測定方法および測定装置 2014年 3月 5日
特許 5433775 撮像方法及び撮像装置 2014年 3月 5日
特許 5433725 撮像方法及び撮像装置 2014年 3月 5日
特許 5433631 半導体デバイスの欠陥検査方法およびそのシステム 2014年 3月 5日
特許 5433405 電子顕微鏡 2014年 3月 5日
特許 5433171 試料温度の制御方法 2014年 3月 5日
特許 5427975 電解質分析装置の管理システム 2014年 2月26日
特許 5427974 電極,電気化学セルおよび分析装置並びにそれらの製造方法 2014年 2月26日
特許 5427962 質量分析装置、分析法およびキャリブレーション試料 2014年 2月26日

625 件中 466-480 件を表示

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5432816 5432186 5430614 5433524 5430589 5430508 5433260 5433775 5433725 5433631 5433405 5433171 5427975 5427974 5427962

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