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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件 (2013年:第59位 716件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件 (2013年:第51位 717件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5417306 | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 | 2014年 2月12日 | |
特許 5417205 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | 2014年 2月12日 | |
特許 5416868 | 基板検査方法及び基板検査装置 | 2014年 2月12日 | |
特許 5416600 | 欠陥検査装置およびその方法 | 2014年 2月12日 | |
特許 5415523 | パターン検査装置及びその検査方法 | 2014年 2月12日 | |
特許 5414707 | 分析装置 | 2014年 2月12日 | |
特許 5414602 | 検査装置 | 2014年 2月12日 | |
特許 5414215 | 回路パターン検査装置、および回路パターンの検査方法 | 2014年 2月12日 | |
特許 5412207 | 生体分子固定基板及びその製造方法 | 2014年 2月12日 | |
特許 5416867 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2014年 2月12日 | |
特許 5417428 | 電子顕微鏡および試料保持方法 | 2014年 2月12日 | |
特許 5417380 | リニアモータ,可動ステージおよび電子顕微鏡 | 2014年 2月12日 | |
特許 5416748 | プラズマ処理装置 | 2014年 2月12日 | |
特許 5416319 | 荷電粒子線装置、試料観察システムおよび操作プログラム | 2014年 2月12日 | |
特許 5415583 | 真空処理装置 | 2014年 2月12日 |
625 件中 511-525 件を表示
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5417306 5417205 5416868 5416600 5415523 5414707 5414602 5414215 5412207 5416867 5417428 5417380 5416748 5416319 5415583
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ビジネスの実務で役立つ技術契約の基礎知識と実例 ~秘密保持契約、共同研究開発、共同出願契約、製造委託契約、特許ライセンス契約~
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12月13日(金) - 東京 品川
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