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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2024年12月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5414385 | 荷電粒子線調整方法、及び荷電粒子線装置 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5414172 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5412270 | 走査電子顕微鏡 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5412169 | 欠陥観察方法及び欠陥観察装置 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5411215 | プラズマ処理装置 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5411105 | ドライエッチング装置 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5405378 | 核酸分析装置及び方法 | 2014年 2月 5日 | |
| 特許 5410950 | プラズマ処理装置 | 2014年 2月 5日 | |
| 特許 5409763 | 液体クロマトグラフ装置および液体クロマトグラフ分析方法 | 2014年 2月 5日 | |
| 特許 5409564 | 自動分析装置 | 2014年 2月 5日 | |
| 特許 5406821 | 自動分析装置 | 2014年 2月 5日 | |
| 特許 5406809 | クロマトグラフ装置 | 2014年 2月 5日 | |
| 特許 5406677 | 暗視野欠陥検査方法及び暗視野欠陥検査装置 | 2014年 2月 5日 | |
| 特許 5405956 | 欠陥検査装置 | 2014年 2月 5日 | |
| 特許 5405668 | イオントラップ質量分析装置および質量分析方法 | 2014年 2月 5日 |
625 件中 526-540 件を表示
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5414385 5414172 5412270 5412169 5411215 5411105 5405378 5410950 5409763 5409564 5406821 5406809 5406677 5405956 5405668
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