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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2014年 出願公開件数ランキング    第59位 659件 変わらず2013年:第59位 716件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第54位 625件 下降2013年:第51位 717件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5408620 データ分散管理システム及びデータ分散管理方法 2014年 2月 5日
特許 5409685 イオンビーム装置および加工方法 2014年 2月 5日
特許 5409511 電子顕微鏡、および電子顕微鏡の光軸調整方法 2014年 2月 5日
特許 5409063 真空処理装置 2014年 2月 5日
特許 5408852 パターン測定装置 2014年 2月 5日
特許 5406308 電子線を用いた試料観察方法及び電子顕微鏡 2014年 2月 5日
特許 5406293 荷電粒子線装置 2014年 2月 5日
特許 5400749 蒸着装置 2014年 1月29日
特許 5400653 真空蒸着装置 2014年 1月29日
特許 5401605 テンプレートマッチング処理装置およびテンプレートマッチング処理プログラム 2014年 1月29日
特許 5401481 キャップおよび検体分注装置 2014年 1月29日
特許 5401427 自動分析装置 2014年 1月29日
特許 5401413 分析システム 2014年 1月29日
特許 5400882 半導体検査装置及びそれを用いた半導体検査方法 2014年 1月29日
特許 5400548 レジスト膜面ムラ検査装置及び検査方法並びにDTM製造ライン 2014年 1月29日

625 件中 541-555 件を表示

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5408620 5409685 5409511 5409063 5408852 5406308 5406293 5400749 5400653 5401605 5401481 5401427 5401413 5400882 5400548

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