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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2014年 出願公開件数ランキング    第59位 659件 変わらず2013年:第59位 716件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第54位 625件 下降2013年:第51位 717件)

(ランキング更新日:2020年11月19日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5618556 核酸分析装置,核酸分析反応デバイス、および核酸分析用反応デバイス用基板 2014年11月 5日
特許 5619118 荷電粒子線装置 2014年11月 5日
特許 5618851 イオンミリング装置 2014年11月 5日
特許 5615941 異物検出装置及び異物検出方法 2014年10月29日
特許 5616773 核酸分析用反応デバイス、及び核酸分析装置 2014年10月29日
特許 5611149 光学顕微鏡装置及びこれを備えた検査装置 2014年10月22日
特許 5612950 トロリ線測定用投光装置及びトロリ線測定装置 2014年10月22日
特許 5610954 光学式レール変位検出装置 2014年10月22日
特許 5611951 試料処理システム 2014年10月22日
特許 5611016 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 2014年10月22日
特許 5613298 自動分析装置 2014年10月22日
特許 5608575 画像分類方法および画像分類装置 2014年10月15日
特許 5608208 欠陥レビュー装置 2014年10月15日
特許 5608632 基板の粗さを得る方法、及び基板の粗さを得るための装置 2014年10月15日
特許 5608722 検査装置、および検査装置の調整方法 2014年10月15日

625 件中 46-60 件を表示

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5618556 5619118 5618851 5615941 5616773 5611149 5612950 5610954 5611951 5611016 5613298 5608575 5608208 5608632 5608722

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