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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2025年6月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5619939 | パターン転写方法 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5618556 | 核酸分析装置，核酸分析反応デバイス、および核酸分析用反応デバイス用基板 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5620634 | 分光測光用樹脂製セルおよびその製造方法 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5615941 | 異物検出装置及び異物検出方法 | 2014年10月29日 | |
| 特許 5616773 | 核酸分析用反応デバイス、及び核酸分析装置 | 2014年10月29日 | |
| 特許 5610954 | 光学式レール変位検出装置 | 2014年10月22日 | |
| 特許 5611951 | 試料処理システム | 2014年10月22日 | |
| 特許 5613298 | 自動分析装置 | 2014年10月22日 | |
| 特許 5611016 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2014年10月22日 | |
| 特許 5612950 | トロリ線測定用投光装置及びトロリ線測定装置 | 2014年10月22日 | |
| 特許 5611149 | 光学顕微鏡装置及びこれを備えた検査装置 | 2014年10月22日 | |
| 特許 5608209 | 欠陥レビュー装置 | 2014年10月15日 | |
| 特許 5608575 | 画像分類方法および画像分類装置 | 2014年10月15日 | |
| 特許 5608208 | 欠陥レビュー装置 | 2014年10月15日 | |
| 特許 5608632 | 基板の粗さを得る方法、及び基板の粗さを得るための装置 | 2014年10月15日 |
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5619939 5618556 5620634 5615941 5616773 5610954 5611951 5613298 5611016 5612950 5611149 5608209 5608575 5608208 5608632
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