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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2024年12月11日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5391209 | プラズマ処理装置 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5391350 | 電気泳動媒体用容器及び電気泳動装置の駆動方法 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5391172 | 異物検査装置及びアライメント調整方法 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5391039 | 表面欠陥検査方法及び検査装置 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5390215 | 欠陥観察方法および欠陥観察装置 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5389840 | パターン形状評価方法及びパターン形状評価装置 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5388745 | 自動分析装置 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5388703 | 表面観察装置および表面観察方法 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5386519 | 半導体検査装置、及び荷電粒子線の画像、或いは光学条件の選択装置 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5386502 | パターン寸法計測方法及びそれを用いた走査電子顕微鏡 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5386446 | 画像データ解析装置 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5386386 | 試料保持装置、及び荷電粒子線装置 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5391252 | 荷電粒子ビームを用いた検査方法及び検査装置 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5389766 | 走査型電子顕微鏡 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5389362 | 真空処理装置 | 2014年 1月15日 |
625 件中 586-600 件を表示
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5391209 5391350 5391172 5391039 5390215 5389840 5388745 5388703 5386519 5386502 5386446 5386386 5391252 5389766 5389362
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