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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2014年 出願公開件数ランキング    第59位 659件 変わらず2013年:第59位 716件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第54位 625件 下降2013年:第51位 717件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5391209 プラズマ処理装置 2014年 1月15日
特許 5391350 電気泳動媒体用容器及び電気泳動装置の駆動方法 2014年 1月15日
特許 5391172 異物検査装置及びアライメント調整方法 2014年 1月15日
特許 5391039 表面欠陥検査方法及び検査装置 2014年 1月15日
特許 5390215 欠陥観察方法および欠陥観察装置 2014年 1月15日
特許 5389840 パターン形状評価方法及びパターン形状評価装置 2014年 1月15日
特許 5388745 自動分析装置 2014年 1月15日
特許 5388703 表面観察装置および表面観察方法 2014年 1月15日
特許 5386519 半導体検査装置、及び荷電粒子線の画像、或いは光学条件の選択装置 2014年 1月15日
特許 5386502 パターン寸法計測方法及びそれを用いた走査電子顕微鏡 2014年 1月15日
特許 5386446 画像データ解析装置 2014年 1月15日
特許 5386386 試料保持装置、及び荷電粒子線装置 2014年 1月15日
特許 5391252 荷電粒子ビームを用いた検査方法及び検査装置 2014年 1月15日
特許 5389766 走査型電子顕微鏡 2014年 1月15日
特許 5389362 真空処理装置 2014年 1月15日

625 件中 586-600 件を表示

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5391209 5391350 5391172 5391039 5390215 5389840 5388745 5388703 5386519 5386502 5386446 5386386 5391252 5389766 5389362

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