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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5608575 | 画像分類方法および画像分類装置 | 2014年10月15日 | |
| 特許 5604402 | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | 2014年10月 8日 | |
| 特許 5604551 | 自動分析装置 | 2014年10月 8日 | |
| 特許 5604208 | 欠陥検出装置及びコンピュータプログラム | 2014年10月 8日 | |
| 特許 5604067 | マッチング用テンプレートの作成方法、及びテンプレート作成装置 | 2014年10月 8日 | |
| 特許 5603421 | 自動収差補正法を備えた荷電粒子線装置 | 2014年10月 8日 | |
| 特許 5604165 | 質量分析装置 | 2014年10月 8日 | |
| 特許 5603246 | 質量分析装置 | 2014年10月 8日 | |
| 特許 5600603 | 微生物自動分析装置および微生物自動分析方法 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5599488 | 試料処理方法 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5599219 | 自動分析装置及び自動分析方法 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5600430 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5597433 | 真空処理装置 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5600447 | プラズマエッチング方法 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5597295 | 荷電粒子線装置 | 2014年10月 1日 |
625 件中 61-75 件を表示
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5608575 5604402 5604551 5604208 5604067 5603421 5604165 5603246 5600603 5599488 5599219 5600430 5597433 5600447 5597295
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