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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2014年 出願公開件数ランキング    第59位 659件 変わらず2013年:第59位 716件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第54位 625件 下降2013年:第51位 717件)

(ランキング更新日:2020年11月26日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5592957 荷電粒子線応用装置、及び照射方法 2014年 9月17日
特許 5591378 ガス電界電離イオン源、イオンビーム装置 2014年 9月17日
特許 5593205 核酸分析装置 2014年 9月17日
特許 5586271 真空処理装置及びプログラム 2014年 9月10日
特許 5587965 化学分析装置 2014年 9月10日
特許 5587265 検査装置 2014年 9月10日
特許 5589023 半導体ウェハの異物検査装置 2014年 9月10日
特許 5586889 粒子画像解析装置 2014年 9月10日
特許 5587816 核酸分析デバイス、及び核酸分析装置 2014年 9月10日
特許 5588944 走査型電子顕微鏡 2014年 9月10日
特許 5588759 試料ステージ及び試料ステージを備えた測定,検査,観察装置 2014年 9月10日
特許 5588529 プラズマ処理方法 2014年 9月10日
特許 5587862 化学分析装置 2014年 9月10日 共同出願
特許 5588481 ネットワーク装置、ネットワーク装置の制御方法及びネットワークシステム 2014年 9月10日 共同出願
特許 5586286 プラズマ処理装置 2014年 9月10日

625 件中 91-105 件を表示

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5592957 5591378 5593205 5586271 5587965 5587265 5589023 5586889 5587816 5588944 5588759 5588529 5587862 5588481 5586286

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