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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第59位 659件
（
2013年：第59位 716件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第54位 625件
（
2013年：第51位 717件）
（ランキング更新日：2021年2月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5588529 | プラズマ処理方法 | 2014年 9月10日 | |
| 特許 5583962 | 荷電粒子線装置 | 2014年 9月 3日 | |
| 特許 5584159 | 荷電粒子線装置及びパターン測定方法 | 2014年 9月 3日 | |
| 特許 5584819 | 電子顕微鏡用ホルダー、電子顕微鏡及び試料観察方法 | 2014年 9月 3日 | |
| 特許 5581068 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置の調整方法 | 2014年 8月27日 | |
| 特許 5579374 | 半導体加工方法 | 2014年 8月27日 | |
| 特許 5579574 | 欠陥検査方法およびその装置 | 2014年 8月27日 | |
| 特許 5581343 | 欠陥検査方法およびその装置 | 2014年 8月27日 | |
| 特許 5579397 | 真空処理装置 | 2014年 8月27日 | |
| 特許 5579588 | 欠陥観察方法及びその装置 | 2014年 8月27日 | |
| 特許 5581112 | 自動釣菌装置 | 2014年 8月27日 | |
| 特許 5581033 | １本搬送用ホルダの切り離し機構 | 2014年 8月27日 | |
| 特許 5581286 | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 | 2014年 8月27日 | |
| 特許 5581282 | 表面形状計測装置 | 2014年 8月27日 | |
| 特許 5581236 | 分注チップ及び核酸分析装置 | 2014年 8月27日 |
625 件中 106-120 件を表示
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5588529 5583962 5584159 5584819 5581068 5579374 5579574 5581343 5579397 5579588 5581112 5581033 5581286 5581282 5581236
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