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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2014年 出願公開件数ランキング    第59位 659件 変わらず2013年:第59位 716件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第54位 625件 下降2013年:第51位 717件)

(ランキング更新日:2021年1月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5588529 プラズマ処理方法 2014年 9月10日
特許 5583962 荷電粒子線装置 2014年 9月 3日
特許 5584159 荷電粒子線装置及びパターン測定方法 2014年 9月 3日
特許 5584819 電子顕微鏡用ホルダー、電子顕微鏡及び試料観察方法 2014年 9月 3日
特許 5581068 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置の調整方法 2014年 8月27日
特許 5579374 半導体加工方法 2014年 8月27日
特許 5579574 欠陥検査方法およびその装置 2014年 8月27日
特許 5581343 欠陥検査方法およびその装置 2014年 8月27日
特許 5579397 真空処理装置 2014年 8月27日
特許 5579588 欠陥観察方法及びその装置 2014年 8月27日
特許 5581112 自動釣菌装置 2014年 8月27日
特許 5581033 1本搬送用ホルダの切り離し機構 2014年 8月27日
特許 5581286 欠陥検査方法および欠陥検査装置 2014年 8月27日
特許 5581282 表面形状計測装置 2014年 8月27日
特許 5581236 分注チップ及び核酸分析装置 2014年 8月27日

625 件中 106-120 件を表示

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5588529 5583962 5584159 5584819 5581068 5579374 5579574 5581343 5579397 5579588 5581112 5581033 5581286 5581282 5581236

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