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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2014年 出願公開件数ランキング    第59位 659件 変わらず2013年:第59位 716件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第54位 625件 下降2013年:第51位 717件)

(ランキング更新日:2021年3月4日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5579374 半導体加工方法 2014年 8月27日
特許 5579574 欠陥検査方法およびその装置 2014年 8月27日
特許 5581007 加工装置、及び試料加工方法 2014年 8月27日
特許 5577160 プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 2014年 8月20日
特許 5576406 荷電粒子線装置 2014年 8月20日
特許 5577174 試料の核酸増幅検出方法及び装置 2014年 8月20日
特許 5576050 リニア浮上式高速鉄道ガイドウェイ走行路検査装置及び検査方法 2014年 8月20日
特許 5576135 パターン検査方法及びその装置 2014年 8月20日
特許 5572428 検査装置および検査方法 2014年 8月13日
特許 5572329 プラズマ処理装置およびプラズマ生成装置 2014年 8月13日
特許 5572293 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 2014年 8月13日
特許 5571969 欠陥検査方法及びその装置 2014年 8月13日
特許 5568444 欠陥検査方法、微弱光検出方法および微弱光検出器 2014年 8月 6日
特許 5568277 パターンマッチング方法、及びパターンマッチング装置 2014年 8月 6日
特許 5568456 荷電粒子線装置 2014年 8月 6日

625 件中 121-135 件を表示

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5579374 5579574 5581007 5577160 5576406 5577174 5576050 5576135 5572428 5572329 5572293 5571969 5568444 5568277 5568456

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