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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第366位 107件 (2010年:第258位 187件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第252位 139件 (2010年:第315位 98件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-181898 | エアギャップ形成用シリカ系被膜形成材料及びエアギャップ形成方法 | 2011年 9月15日 | |
特開 2011-173956 | 接着剤組成物および接着フィルム | 2011年 9月 8日 | |
特開 2011-173955 | 接着剤組成物、接着フィルムおよび分離方法 | 2011年 9月 8日 | |
特開 2011-171600 | 不純物拡散成分の拡散方法、および太陽電池の製造方法 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-170075 | 感光性組成物 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-164293 | リソグラフィー用洗浄液及び配線形成方法 | 2011年 8月25日 | |
特開 2011-162796 | 高分子化合物、該高分子化合物を含有するフォトレジスト組成物、およびレジストパターン形成方法 | 2011年 8月25日 | |
特開 2011-158879 | ポジ型レジスト組成物、レジストパターン形成方法、高分子化合物 | 2011年 8月18日 | |
特開 2011-151416 | 処理装置および処理方法、ならびに表面処理治具 | 2011年 8月 4日 | |
特開 2011-146457 | 分離方法及び分離装置 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-145561 | フォトリソグラフィ用現像液 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-145557 | フォトリソグラフィ用現像液 | 2011年 7月28日 | |
特開 2011-141332 | ポジ型レジスト組成物、レジストパターン形成方法 | 2011年 7月21日 | |
特開 2011-141382 | ポジ型レジスト組成物、レジストパターン形成方法、高分子化合物 | 2011年 7月21日 | |
特開 2011-138003 | ポジ型レジスト組成物及びレジストパターン形成方法 | 2011年 7月14日 |
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2011-181898 2011-173956 2011-173955 2011-171600 2011-170075 2011-164293 2011-162796 2011-158879 2011-151416 2011-146457 2011-145561 2011-145557 2011-141332 2011-141382 2011-138003
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11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月29日(金) - 東京 港区
12月2日(月) - 滋賀 草津市
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12月2日(月) -
12月4日(水) - 東京 千代田区
12月4日(水) - 東京 港区
12月4日(水) -
12月4日(水) - 大阪 大阪市
12月4日(水) -
12月4日(水) -
12月5日(木) - 東京 港区
12月5日(木) -
12月5日(木) -
12月5日(木) - 大阪 大阪市
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12月6日(金) -
12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
12月6日(金) -
12月2日(月) - 滋賀 草津市
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