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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第366位 107件
(2010年:第258位 187件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第252位 139件
(2010年:第315位 98件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-258841 | 基板の加工方法 | 2011年12月22日 | |
特開 2011-257499 | レジストパターン形成方法及びパターン微細化処理剤 | 2011年12月22日 | |
特開 2011-257635 | 絶縁膜形成用感光性組成物 | 2011年12月22日 | |
特開 2011-254055 | 被処理体の処理方法 | 2011年12月15日 | |
特開 2011-248147 | パターン形成方法 | 2011年12月 8日 | |
特開 2011-245449 | 塗布装置 | 2011年12月 8日 | |
特開 2011-243706 | 拡散剤組成物、不純物拡散層の形成方法、および太陽電池 | 2011年12月 1日 | |
特開 2011-238589 | 櫛型電極の製造方法 | 2011年11月24日 | 共同出願 |
特開 2011-230084 | サポートプレートの洗浄方法 | 2011年11月17日 | |
特開 2011-233680 | 剥離装置及び剥離方法 | 2011年11月17日 | |
特開 2011-233679 | 剥離方法及び剥離装置 | 2011年11月17日 | |
特開 2011-233678 | 剥離方法及び剥離装置 | 2011年11月17日 | |
特開 2011-227246 | ネガ型感光性樹脂組成物、感光性ドライフィルム、及び受光装置 | 2011年11月10日 | |
特開 2011-225885 | 高分子化合物、該高分子化合物を含有するフォトレジスト組成物、およびレジストパターン形成方法 | 2011年11月10日 | |
特開 2011-225486 | レジスト組成物、レジストパターン形成方法、新規な化合物及び酸発生剤 | 2011年11月10日 |
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2011-258841 2011-257499 2011-257635 2011-254055 2011-248147 2011-245449 2011-243706 2011-238589 2011-230084 2011-233680 2011-233679 2011-233678 2011-227246 2011-225885 2011-225486
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3月26日(水) - 東京 港区
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4月1日(火) - 山口 山口市
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